RQ電阻器基本原理以及發展

更新時間：2014-02-13

瀏覽次數：3274

上海永上電器有限公司的RQ電阻器基本原理以及發展

RQ電阻器由電阻體、骨架和引出端三部分構成（實芯電阻器的電阻體與骨架合而為一），而決定阻值的只是電阻體。對于截面均勻的電阻體，電阻值為

電阻值式中ρ為電阻材料的電阻率（歐/厘米）；L為電阻體的長度（厘米）；A為電阻體的截面積（厘米）。

薄膜電阻體的厚度d很小，難于測準,且ρ又隨厚度而變化，故把視為與薄膜材料有關的常數，稱為膜電阻。實際上它就是正方形薄膜的阻值，故又稱方阻(歐/方)。對于均勻薄膜薄膜阻值式中W為薄膜的寬度（厘米）。通常Rs應在一有限范圍內，Rs太大會影響電阻器性能的穩定。因此圓柱形電阻體以刻槽方法，平面形電阻體用刻蝕迂回圖形的方法來擴大其阻值范圍，并進行阻值微調。

參數與特性　表征電阻特性的主要參數有標稱阻值及其允許偏差、額定功率、負荷特性、電阻溫度系數等。

標稱阻值　用數字或色標在電阻器上標志的設計阻值。單位為歐（Ω）、千歐（kΩ）、兆歐（MΩ）、太歐（TΩ）。阻值按標準化優先數系列制造,系列數對應于允許偏差。

如何使用上表：四環電阻：一環數字（十位）二環數字（個位）*倍乘數例;紅橙黑金=23*10^0=23Ω(±5%)

五環電阻：一環數字（百位）二環數字（十位）三環數字（個位）*倍乘數例：紅藍綠黑棕=265*10^0=265Ω(±1%)

允許偏差　實際阻值與標稱阻值間允許的zui大偏差，以百分比表示。常用的有±5%、±10%、±20%,精密的小于±1%，高精密的可達0.001%。精度由允許偏差和不可逆阻值變化二者決定。

額定功率　電阻器在額定溫度（zui高環境溫度）tR下連續工作所允許耗散的zui大功率。對每種電阻器同時還規定zui高工作電壓，即當阻值較高時即使并未達到額定功率，也不能超過zui高工作電壓使用。

負荷特性　當工作環境溫度低于tR時，電阻器也不能超過其額定功率使用，當超過tR時，必須降低負荷功率。對每種電阻器都有規定的負荷特性。此外，在低氣壓下負荷允許相應降低。在脈沖負荷下，脈沖平均功率遠低于額定功率，一般另有規定。

RQ電阻器發展

1885年英國C.布雷德利發明模壓碳質實芯電阻器。1897年英國T.甘布里爾和A.哈里斯用含碳墨汁制成碳膜電阻器。1913～1919年英國W.斯旺和德國F.克魯格先后發明金屬膜電阻器。1925年德國西門子-哈爾斯克公司發明熱分解碳膜電阻器，打破了碳質實芯電阻器壟斷

市場的局面。晶體管問世后，對電阻器的小型化、阻值穩定性等指標要求更嚴，促進了各類新型電阻器的發展。美國貝爾實驗室1959年研制成 TaN電阻器。60年代以來，采用滾筒磁控濺射、激光阻值微調等新工藝，部分產品向平面化、集成化、微型化及片狀化方面發展。